胤旭機(jī)電 >> QUELLTECH激光掃描儀Q6 : QUELLTECH激光掃描儀Q6 QuellTech激光掃描儀利用三角測(cè)量原理來(lái)檢測(cè)表面的二維輪廓。借助于特定的光學(xué)部件,將點(diǎn)狀激光束擴(kuò)展成一條線(xiàn)并投射到感興趣的物體上。反射激光線(xiàn)的漫射光被
QUELLTECH激光掃描儀Q6
QuellTech激光掃描儀利用三角測(cè)量原理來(lái)檢測(cè)表面的二維輪廓。借助于特定的光學(xué)部件,將點(diǎn)狀激光束擴(kuò)展成一條線(xiàn)并投射到感興趣的物體上。反射激光線(xiàn)的漫射光被物鏡以一定角度捕獲,然后被引導(dǎo)到二維接收器芯片。
基于已知的距離和角度,計(jì)算x水平(激光線(xiàn))中的每個(gè)像素的精確校準(zhǔn)高度值(z),從而在樣本的xz平面中得到精確的輪廓。如果掃描儀在樣品(y軸)上被引導(dǎo),則創(chuàng)建一系列輪廓,在空間中形成三維點(diǎn)云。該點(diǎn)云可以通過(guò)軟件執(zhí)行的尺寸控制。
Q6激光掃描儀,重型系列,可滿(mǎn)足比較苛刻的測(cè)量任務(wù)
QuellTech Q6激光掃描儀非常適合工業(yè)應(yīng)用,在高移動(dòng)速度下要求比較高精度和工藝穩(wěn)定性:
高分辨率和輪廓速度為14.000個(gè)/ s,高達(dá)57 Mio點(diǎn)/秒
X-測(cè)量范圍從45到1200毫米
Z-測(cè)量范圍(高度)從15到800毫米
激光波長(zhǎng)藍(lán)色405/450 nm,紅色650 nm
對(duì)于Q6激光掃描儀,可提供1 mW至160 mW的不同功率等優(yōu)質(zhì)。為了比較佳地適應(yīng)待檢查的表面,可以選擇功率等優(yōu)質(zhì)和波長(zhǎng)。
Q6激光掃描儀,更多屬性
分辨率低至0.24μm(數(shù)字分辨率)
非常光滑的材料的特殊算法
不同的高動(dòng)態(tài)范圍(HDR) - 反射率差異很大的物體的模式
多斜率模式用于反射率差異很大的物體
不同的觸發(fā)模式,2個(gè)觸發(fā)輸入(編碼器輸入RS422)
在芯片上設(shè)置幾個(gè)測(cè)量窗口
自動(dòng)跟蹤測(cè)量窗口
多掃描儀應(yīng)用程序的主從配置
用戶(hù)配置存儲(chǔ)在激光掃描儀中
在制造商現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行個(gè)別極其精確的校準(zhǔn)
外殼,防護(hù)系統(tǒng)IP67
* GenICam和GigEVision接口標(biāo)準(zhǔn),用于連接已知的圖像處理軟件工具
軟件開(kāi)發(fā)工具包
咨詢(xún)與評(píng)論