FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀XDL 230

胤旭機(jī)電 >> FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀XDL 230 : FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀XDL 230 FISCHERSCOPEX射線XDL和XDLMX射線熒光(XRF)光譜儀與XUL 系列密切相關(guān)。所有主要組件(例如探測(cè)器，X射線管和過(guò)濾器組合)都是相同的。但是有一個(gè)顯著的區(qū)別：X

　　FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀XDL 230

　　FISCHERSCOPE®X射線XDL®和XDLM®X射線熒光(XRF)光譜儀與XUL 系列密切相關(guān)。所有主要組件(例如探測(cè)器，X射線管和過(guò)濾器組合)都是相同的。但是有一個(gè)顯著的區(qū)別：XDL和XDLM設(shè)備從上到下進(jìn)行度量。這意味著可以方便地對(duì)非扁平樣品進(jìn)行XRF分析-復(fù)雜的形狀不再是問(wèn)題!

　　自上而下的方法還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)：它使XRF的自動(dòng)測(cè)量變得容易。XDL 240和XDLM 237配有可編程的樣品臺(tái)，非常適合掃描表面。因此，您可以檢查較大零件上的層的厚度，也可以一次又一次地自動(dòng)測(cè)量許多小的零件。

　　與XUL系列一樣，XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。這意味著這些XRF設(shè)備特別適合分析小樣品。XDLM的測(cè)量點(diǎn)直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業(yè)。

　　能量色散X射線熒光(XRF)光譜儀，用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568進(jìn)行自動(dòng)材料分析和涂層厚度的無(wú)損測(cè)量

　　最小測(cè)量點(diǎn)XDLM：約 0.1毫米; 最小測(cè)量點(diǎn)XDL：約 0.2毫米

　　鎢X射線管或鎢微聚焦管(XDLM)作為X射線源

　　經(jīng)驗(yàn)證的比例計(jì)數(shù)管檢測(cè)器，可快速測(cè)量

　　固定或可變的準(zhǔn)直器

　　固定或自動(dòng)更換的主過(guò)濾器

　　提供手動(dòng)或可編程XY工作臺(tái)

　　開(kāi)槽外殼，用于在大型印刷電路板上進(jìn)行測(cè)量

　　攝像機(jī)可輕松固定測(cè)量位置

　　經(jīng)過(guò)認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備