德國FISCHER測厚儀 電磁感應(yīng)/袖珍式涂層測厚儀

德國FISCHER測厚儀 電磁感應(yīng)/袖珍式涂層測厚儀 :德國FISCHER公司作為世界最大專業(yè)涂鍍層測厚儀及材料分析儀生產(chǎn)廠商之一，在積累了長達(dá)60多年客戶服務(wù)經(jīng)驗的基礎(chǔ)上，F(xiàn)ischer測厚儀對目前存在的幾乎每一種涂鍍層應(yīng)用都能提供良好的解決方案。FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個客戶的需。 遵循DIN EN ISO 2360和ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)中的渦流法，測量非鐵金屬上的不導(dǎo)電層厚度。一個特殊的應(yīng)用就是測量銅上的薄鉻層厚度。Elster氣相色譜分析儀
德國菲希爾公司主要產(chǎn)品有：Fischer渦流測厚儀；電磁感應(yīng)測厚儀；庫侖測厚儀；X射線測厚儀；β射線測厚儀；線路板金屬化孔測試儀；以及電導(dǎo)率、鐵素體含量材料分析儀和表面微硬度測試儀等。

德國菲希爾DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個測量數(shù)據(jù)，帶動態(tài)存儲分配能力。100個測量應(yīng)用的內(nèi)存可用于存儲校準(zhǔn)和相關(guān)的測量數(shù)據(jù)。Fischer DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀使用Fischer的智慧型測量探頭ED10，F(xiàn)MP40膜厚儀會自動檢測出基體的材料并應(yīng)用合適的測試方法：渦流法或電磁感應(yīng)法 。能自動識別不同的探頭。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。Fischer DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法。理想的適合于測量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
鋁的陽極氧化層。
一步測量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統(tǒng)（雙鍍層）中各自的厚度。
德國Fischer DUALSCOPE FMP40膜厚計配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4' x 1.2'）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，應(yīng)用程式號，組號，統(tǒng)計數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。其它特性還包括RS232雙向通訊的打印機和PC電腦的連接，聲音提示信號，電池或交流供電，以及節(jié)電的測量后4分鐘自動關(guān)機。
Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法。Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀適用于測量：非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上，油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上德國菲希爾DELTASCOPE FMP10測厚儀在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動識別。德國FISCHER DELTASCOPE FMP10膜厚儀應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀配備有一個獨特的和便于讀取的 60 x 30 mm (2.4' x 1.2'))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示 HELMUT FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個客戶的需求。
涂層測厚儀DELTASCOPE FMP10遵循DIN EN ISO 2178和ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)中的磁感應(yīng)方法，測量鋼上的非鐵金屬鍍層（例如，鉻，銅，鋅等）和塑料涂層。

德國Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。自動的求平均功能降低了測量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動識別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測厚儀功能特點：ISOSCOPE FMP30膜厚計具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。自動的求平均功能降低了測量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動識別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法，適用于測量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上，鋁的陽極氧化層（非鐵基材）。
FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測厚儀適合于需要一款獨立的電渦流儀器帶全部測量數(shù)據(jù)存儲，輸出和打印功能的使用者。能存儲多達(dá)100個應(yīng)用程式中1,000個數(shù)據(jù)組中的10,000個測量數(shù)據(jù)。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測厚儀配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，應(yīng)用程式號，組號，統(tǒng)計數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。
袖珍式涂鍍層測厚儀袖珍式儀器，簡便、快速、無損地在幾乎所有金屬上或只在鐵/鋼上測量涂層厚度
Fischer袖珍式涂鍍層測厚儀產(chǎn)品特點
? 儀器集成了探頭，便于操作
? 出色的重復(fù)精度
? 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小
? 享有**的電導(dǎo)率補償技術(shù)（電渦流方法）
? 快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測量讀數(shù)
? 兩個背光液晶顯示屏，便于從各個角度讀取測量值，甚至可從儀器頂部讀取讀數(shù)
? 耐用的探頭和堅固的外殼
? 記錄測量值時可以發(fā)出聲音和視覺的信號
典型應(yīng)用領(lǐng)域
? 油漆，例如汽車車身上的油漆
? 防腐蝕鍍層
? 建筑物維護
Fischer主要產(chǎn)品系列和型號：PERMASCOPE® MP0、DUALSCOPE® MP0、PERMASCOPE® MP0R、ISOSCOPE® MP0R、DUALSCOPE® MP0R、PERMASCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0RH-FP
臺式設(shè)備，用于通常的涂層厚度測量和材料：FISCHERSCOPE® MMS® PC2

軟件：FISCHER DataCenter用于評估和保存測量值的軟件，用于確保質(zhì)量的檢測圖軟件
手持式涂鍍層測厚儀
標(biāo)準(zhǔn)手持設(shè)備，用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性厚度測量
DELTASCOPE® FMP10、ISOSCOPE® FMP10、DUALSCOPE® FMP20、DELTASCOPE® FMP30、ISOSCOPE® FMP30、DUALSCOPE® FMP40、DUALSCOPE® FMP100、DUALSCOPE® FMP150
PHASCOPE® PMP10
PHASCOPE® PMP10 DUPLEX
高精度探頭
備件：校準(zhǔn)器標(biāo)準(zhǔn)，三角架，試樣支架等

ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)整體方案

 

		FISCHERSCOPE® XUL® 穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測量儀，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量
		FISCHERSCOPE® XULM® X射線熒光測量儀，用于對小部件進行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量
		FISCHERSCOPE® XAN® 120 X 射線熒光測試儀，用于快速、非破壞性的對黃金和銀合金進行分析
		FISCHERSCOPE® XAN® 220 用于快速無損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測量設(shè)備
		FISCHERSCOPE® XAN® 250 滿足無損材料分析和涂層厚度測量最高要求的通用型X射線熒光測量設(shè)備
		FISCHERSCOPE® XDL® X 射線熒光測量儀，用于對功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進行手動或自動涂層厚度測
		FISCHERSCOPE® XDLM® X射線熒光測試儀，用于對電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進行手動或自動測量，也適用于小型結(jié)構(gòu)
		FISCHERSCOPE® XDAL® X 射線熒光測量儀帶有可編程的 X/Y臺和Z軸，用于自動測量涂鍍層厚度和材料分析
		FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 滿足高要求的 X 射線熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺和 Z 軸，用于自動測量極薄的涂層和進行印痕分析
		FISCHERSCOPE® XDV®-µ 帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測量儀，用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動測量并分析涂層厚度及涂層成分
		FISCHERSCOPE® XUV® 773 X 射線熒光測試儀帶有真空室，通用型高級設(shè)備測量具有全面的測量能力
		FISCHERSCOPE® X-RAY-4000 X 射線熒光測量系統(tǒng)，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進行連續(xù)的在線測量和分析
		FISCHERSCOPE® X-RAY-5000 X 射線熒光測量系統(tǒng)，用于在生產(chǎn)工藝中對較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進行連續(xù)的在線測量和分析
		校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件
			WinFTM® 軟件® 適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件
			備件 X-RAY 產(chǎn)品備件
用于庫侖電量分析的涂層厚

度測量設(shè)備

	COULOSCOPE® CMS 臺式設(shè)備，用于金屬或非金屬基材、單層和多涂層系統(tǒng)上所有金屬涂層的庫侖電量涂鍍層厚度測量
	COULOSCOPE® CMS STEP 臺式設(shè)備，用于對金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層的厚度進行庫侖電量測量，可以測量單層和多層系統(tǒng)和多層系統(tǒng)的